法国CAMECA公司来测试中心做场发射电子探针及其应用学术报告

发布时间: 2013-06-04

应中国地质调查局及中国地质科学院“元素微区与形态分析”重点实验室的邀请，5月28日上午，法国CAMECA公司电子探针（EMPA）产品经理、资深专家Michel Outrequin先生来测试中心做了一场关于“SX Five场发射电子探针在地质学领域的应用”的学术报告。

Michel Outrequin详细地介绍了SX Five场发射电子探针的分析原理、仪器结构、分析性能及技术优势，举例说明了该技术在微区定量分析、冶金及地质样品元素微区X射线成像、具环境指示意义的生物样品（牙齿及鱼耳石）元素丰度及其分布、考古样品元素丰度及其成像、微区形貌等方面研究中的应用，并结合地学研究热点问题，重点介绍了场发射电子探针在单颗粒独居石U-Th-Pb定年中的应用。

来自国家地质实验测试中心及中国地质科学院矿产资源研究所的约20名科技人员参加了报告会，并就相关学术问题进行了讨论。

Michel Outrequin先生在做SXFive场发射电子探针的报告

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