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测试中心举办X-射线光学系统的最新进展与应用的学术报告

发布时间: 2013-04-19

为了进一步提高中心科研人员的X-射线光谱技术的基础知识水平,推动中心相关领域研究进展,418日上午,应罗立强研究员邀请,XOS公司(X-ray Optical Systems)的Gao Ning博士来测试中心进行了X-射线光学系统的最新进展与应用的学术报告,并进行了讨论与交流。

Gao博士首先对于X-射线光谱技术原理进行了简要概述,解释了多毛细管透镜的原理、技术难点及研发趋势,介绍了不同类型透镜的特点、光学参数及应用,并提供了透镜产品用于观摩。同时,针对光晕效应等实际科研中遇到的问题,讨论了降低干扰的几个途径。在此基础上,结合当前研究热点,介绍了微区X-射线荧光、微区X-射线吸收近边结构、同步辐射等分析方法的应用和进展。

Gao博士的报告深入浅出,活动现场交流频繁,来自不同研究单位的同行们积极参与讨论。通过此次交流,为进一步开展相关领域的深入研究奠定了良好的基础。

Gao Ning博士

高分辨率的元素区域扫描

讲座现场