8月1日-8月10日，以实验测试中心邓赛文研究员为团长的团组，赴美国参加第66届丹佛X射线国际会议暨仪器展览会，并与国外仪器公司进行 X射线分析技术交流。
7月31--8月4日，第66届丹佛X射线国际会议暨仪器展览会在美国蒙大拿召开。团组以报展形式对国家重大科学仪器专项的研发成果——CNX-808WE型X射线荧光光谱仪进行了展示；会后团组一行前往美国AMETEK公司（波士顿）对其所生产的SDD 能量探测器在使用过程中遇到的问题进行了技术交流，共同研究解决问题的技术方案，开展现场实验，使探测器性能可满足仪器的使用要求，圆满完成了出访任务。
通过此次出访，既展示了实验测试中心的科技成果，又进行了技术交流，了解了国外仪器行业的最新行情，开拓了国际视野，为今后仪器研发工作带来了新的理念，助推该项成果市场化、国际化。
参加丹佛国际会议及展览会
与AMETEK公司专家进行技术交流
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